Um alle Funktionen dieser Seite zu nutzen, aktivieren Sie bitte die Cookies in Ihrem Browser.
my.chemie.de
Mit einem my.chemie.de-Account haben Sie immer alles im Überblick - und können sich Ihre eigene Website und Ihren individuellen Newsletter konfigurieren.
- Meine Merkliste
- Meine gespeicherte Suche
- Meine gespeicherten Themen
- Meine Newsletter
Chemische KraftmikroskopieDie Chemische Kraftmikroskopie (engl. Chemical Force Microscopy; Abkürzung CFM) ist eine Abwandlung des 1986 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelten Rasterkraftmikroskops (Atomic Force Microscope, AFM) zur mechanischen und chemisch sensitiven Abbildung von Oberflächen auf Nanometerskala. Dazu wird, anstelle einer klassischen AFM-Spitze, eine chemisch einheitlich modifizierte Sondenspitze zur Abbildung genutzt. Unter gleichzeitiger Verwendung eines Abbildungsmediums, zum Beispiel Wasser oder Hexadekan, treten nur ganz spezifische Wechselwirkungen zwischen Spitze und Oberfläche auf, wodurch die hohe chemische Spezifität der Abbildung erzielt wird. Die chemische Sensitivität bei gleichzeitiger Hochauflösung macht die Chemische Kraftmikroskopie zu einem einzigartigen Werkzeug der Oberflächenforschung mit großem Entwicklungspotential. |
Dieser Artikel basiert auf dem Artikel Chemische_Kraftmikroskopie aus der freien Enzyklopädie Wikipedia und steht unter der GNU-Lizenz für freie Dokumentation. In der Wikipedia ist eine Liste der Autoren verfügbar. |