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Highly Accelerated Stress Screening




Highly Accelerated Stress Screening (kurz HASS) sind Tests mit dem Ziel, vorzugsweise elektronische Baugruppen während der Produktion intensiv zu testen, um initiale Fehler (siehe Badewannenkurve, Zeitabschnitt I) aufdecken zu können.

Testmethodik

Ähnlich wie beim Highly Accelerated Life Test (kurz HALT) werden einzelne oder alle gefertigten Teile einem kurzen, intensiven Test mit Temperaturwechseln und Vibration unterworfen. Die Prüfschärfe muss so gewählt werden, dass Gut-Teile nicht zerstört werden, aber schadhafte Teile zuverlässig detektiert und ausgesondert werden können.

Die Vorbelastung der Teile wird zugunsten einer Reduktion der Anfangsausfälle (beim Kunden) und einer entsprechend gesteigerten Zuverlässigkeit in Kauf genommen.

Siehe auch

Der entwicklungsbegleitende, zerstörende Test von Baugruppen wird Highly Accelerated Life Test genannt.

 
Dieser Artikel basiert auf dem Artikel Highly_Accelerated_Stress_Screening aus der freien Enzyklopädie Wikipedia und steht unter der GNU-Lizenz für freie Dokumentation. In der Wikipedia ist eine Liste der Autoren verfügbar.
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