Rasterkraftmikroskopie - 1 News aus dem Ressort Wissenschaft von UIUC aus den USA für die Branche Laboranalytik / Labormesstechnik

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KI-Technik "entschlüsselt" Mikroskop-Bilder und überwindet fundamentale Grenze

"Wir haben ein Proof-of-Concept geliefert und gezeigt, wie man mit Hilfe von KI AFM-Bilder deutlich verbessern kann, aber diese Arbeit ist erst der Anfang"

12.03.2024 - Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine weit verbreitete Technik, die Materialoberflächen in drei Dimensionen quantitativ abbilden kann, aber ihre Genauigkeit ist durch die Größe der Mikroskopsonde begrenzt. Eine neue KI-Technik überwindet diese Beschränkung und ermöglicht es Mikroskopen, ...

Rasterkraftmikroskopie Deep Learning künstliche Intelligenz
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