Röntgenfluoreszenzspektrometer:
Simultix 15
Simultane WDXRF mit hohem Durchsatz - Simultix 15
Das Rigaku Simultix 15 kombiniert die Auflösung der Elementanalyse eines WDRFA mit der analytischen Geschwindigkeit eines EDRFA und ist damit ideal für Betriebe, die eine große Anzahl von festen, pulverförmigen oder flüssigen Proben verarbeiten, z. B. in der Zement-, Stahl- und Mineralienindustrie. Da alle Kanäle gleichzeitig gescannt werden und sehr genaue Ergebnisse liefern, ist das Simultix 15 die optimale Lösung in Bezug auf die Zeit bis zum Ergebnis, die Präzision, die Zuverlässigkeit, die niedrigen Kosten pro Analyse und die Langlebigkeit des Geräts. Es verfügt außerdem über die einzigartige „Röhre von Oben“ Messgeometrie von Rigaku, die verhindert, dass Verunreinigungen auf der Röhre oder dem Detektor landen, und so die genauesten Ergebnisse und hohe Betriebssicherheit gewährleistet.
Hauptmerkmale
- Elementarbereich - Be bis U
- Leistungsstarke Quelle - 4 kW (3 kW optional)
- Schnelle Analyse – gleichzeitiges Scannen aller Kanäle
- „Röhre von Oben“-Messgeometrie
- Bis zu 40 feste Kanäle - Standard 30 feste Kanäle, optional auf 40 erweiterbar
- Automatisierung - Der optionale Probenlader ermöglicht den Anschluss an automatisierte Probenvorbereitungssysteme von Drittanbietern.
- Synthetische Multilayer Analysatorkristalle der RX-Serie - Die neuen synthetischen RX85-Multilayer-Kristalle erzeugen eine ca. 30% höhere Intensität als die bestehenden Multilayer für Be-Kα und B-Kα.
- XRD-Kanal – Ermöglicht zusätzlich zur RFA auch quantitative Analysen mittels XRD.
- Doppelt gekrümmte Kristalle - Die Verwendung dieser speziellen Kristalle erhöht die Signalintensität im Vergleich zu einfach gekrümmten Kristallen.
- Verbesserte, benutzerfreundliche Software Verbesserte Benutzerfreundlichkeit der quantitativen Analyse durch Übernahme der Flow Bar aus der ZSX Guidance Software.
- Weitwinkel Scan Goniometer - Das optionale Goniometer mit besonders großem Elementbereich unterstützt die standardlose FP-Analyse und kann für die qualitative oder quantitative Bestimmung von unüblichen Elementen verwendet werden.
- Untergrundmessung (B) für Spurenelemente - Optionale Hintergrundmessung für den festen Kanal, die zu verbesserten Kalibrierkurven und höherer Genauigkeit führt.
- Automatische Druckregelung (APC) - Hält das Vakuum in der Messkammer konstant und verbessert die Genauigkeit bei der Analyse leichter Elemente erheblich.
- Quantitative Streuverhältnismethode - Wenn diese Option in Verbindung mit der Compton-Streuverhältnismethode für die Analyse von Erzen und Konzentraten verwendet wird, können theoretische Alpha-Werte für die Streuverhältniskalibrierung erzeugt werden.
Schnelle und präzise RFA-Analyse
Geeignet für die Analyse von Be bis U in nahezu jeder Probenmatrix, scannt der Simultix 15 bis zu 30 Elementkanäle (optional bis zu 40) gleichzeitig, angetrieben von einer 4 kW-Quelle (optional 3 kW) für maximale Geschwindigkeit und Empfindlichkeit. Die Kombination mit einer einfach zu bedienenden, intuitiven Softwareoberfläche, die für Messung und Analyse optimiert ist, macht es zum idealen System für die Hochdurchsatz-Elementanalyse.
Im Gegensatz zu sequentiellen WDRFA-Geräten scannt das Simultix 15 jeden der optimierten festen Kanäle gleichzeitig, was zu einer wesentlich schnelleren Analyse führt. Das System kann für Ihre spezifischen Elemente von Interesse konfiguriert werden.
Automatischer Probenwechsler
Für die ultimative RFA-Analyse mit hohem Durchsatz kann das Simultix 15 mit einem automatischen Probenwechsler (ASC) mit 48 Positionen ausgestattet werden. Es kann mit einer rechts- oder linksseitigen Bandzuführung konfiguriert werden, die von einem automatischen Probenvorbereitungssystem eines Drittanbieters gespeist wird.
Flexibilität
Für maximale Flexibilität kann das Simultix 15 mit einem Scanning-Goniometer für die Messung anderer Elemente sowie mit XRD für die Phasenanalyse ausgestattet werden.
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Röntgenfluoreszenzspektrometer: Simultix 15
Simultane WDXRF mit hohem Durchsatz - Simultix 15