JEOL SEM Series
Ein REM für alle Fälle: Oberflächenstruktur und Elementanalytik für Einsteiger bis Profis
Ob Untersuchung neuer Mikrochips, Aufdecken komplizierter biologischer Strukturen, Polymerforschung, Asbest-, Schmauchspur- oder Schadensanalyse – mit der Entscheidung für ein modernes Rasterelektronenmikroskop von JEOL liegen Sie immer richtig!
Die von JEOL entwickelten REMs decken R&D-Anforderungen von nm- bis sub-nm-Bereich ideal ab. Mit Flexibilität und Optionsvielfalt und einer außergewöhnlich langen Lebensdauer eignen sich JEOL-Geräte perfekt in Qualitätssicherung und Produktentwicklung – in Industrie, Forschung und Lehre. Von unserem leistungsstärksten Flaggschiff-Feldemissions-REM mit ultimativer Auflösung, Vergrößerung und analytischer Flexibilität bis hin zum benutzerfreundlichen Tisch-REM der Einstiegsklasse bietet JEOL auch für Ihre Fragestellung das passende Messgerät.
Die jüngste Generation der JEOL-REMs verfügt über ein Höchstmaß an integrierter, intelligenter Technologie. Unsere JEOL-REMs der neuen Generation erleichtern die Datenerfassung für alle Probentypen. Automatisierungsgrad, Bedienbarkeit, schnelle, hochauflösende Bildgebung und Analyse werden Sie begeistern.
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Ein REM für alle Fälle: Oberflächenstruktur und Elementanalytik für Einsteiger bis Profis
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analytica-Vorschau 2024
Hier präsentieren innovative Aussteller Ihre Messe-Neuheiten, Premieren und Produktinnovationen zur analytica 2024.
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Themenwelt Partikelanalyse
Die Methoden der Partikelanalyse erlaubt es uns, winzige Partikel in verschiedenen Materialien zu untersuchen und ihre Eigenschaften zu enthüllen. Ob in der Umweltüberwachung, der Nanotechnologie oder der pharmazeutischen Industrie – die Partikelanalyse eröffnet uns einen Blick in eine verborgene Welt, in der wir die Zusammensetzung, Größe und Form von Partikeln entschlüsseln können. Erleben Sie die faszinierende Welt der Partikelanalyse!
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