Produkte von Bruker für Oberflächenanalytik kaufen

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LUMOS II von Bruker

FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II

Ein Infrarot-Mikroskop für alle

Unser Fokus: höchste Datenqualität und Messgeschwindigkeit ✓ Einfaches Bedienkonzept: Anwender sind in Minuten geschult ✓ Smarte Nachhaltigkeit: Benötigt keinerlei kostspielige Verbrauchsmaterialien ✓

FT-IR-Mikroskope Oberflächenanalytik Automation
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HYPERION II von Bruker

FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung

Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle

Hochempfindliche (FT-)IR-Mikroskopie und Imaging mit maximaler Geschwindigkeit am Beugungslimit ✓ Präzises Infrarot-Laser-Imaging in allen Messmodi (ATR, Transmission, Reflexion) ✓ Patentierte Kohärenzreduktion für artefaktfreie Laser Imaging Messungen bei voller Geschwindigkeit ✓

FT-IR-Mikroskope Oberflächenanalytik Bildgebung
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