Produkte für Fehleranalyse kaufen
Produkte kaufen leicht gemacht: Hier finden Sie alle Produkte und Anbieter für Fehleranalyse. Um Preise zu erfahren, fordern Sie einfach ein Angebot an. Tipp: Wählen Sie weiter unten einen Schnelleinstieg, um sich gezielt Produkte je nach Produktkategorie oder Anbieter anzeigen zu lassen.
Produkte für Fehleranalyse kaufen
DVM6 von Leica
NICHT SUCHEN. FINDEN!
Schnell, zuverlässig und einfach zu bedienen
Flexibel forschen ✓ Schnelle und einfache Untersuchung Ihrer Proben ✓ Verlässliche Ergebnisse ✓
DM8000 M & DM12000 M von Leica
Mehr sehen, schneller erkennen
Inspektionssysteme für höchsten Durchsatz
Bauweise verhindert Staubansammlungen und Eckenströmungen für saubere Analyse- und Inspektionskammer ✓ Maximale laterale Auflösung mit 150X UV-Objektiv ✓ Das 0,7x USP-Objektiv ermöglicht ein größeres Sichtfeld und verkürzt die Analysezeit ✓
DMi8 A von Leica
Inverses Mikroskop Leica DMi8 für industrielle Anwendungen
Mehr von der Probe sehen
Sie können mit einem Klick von der Makro- (35 mm) zur Nanodarstellung (1 nm) umschalten ✓ Größere Detailgenauigkeit mit der einzigartigen UC-3D Beleuchtung ✓ Intuitive Handhabung ✓
Emspira 3 von Leica
Inspirierend einfache Inspektionen
Inspektion mit einem einzigen System
Sparen Sie Zeit mit der schnellen Probenidentifikation ✓ Messen und dokumentieren Sie direkt während der visuellen Inspektion – ohne PC ✓ Klare Bilder mit weniger manuellem Aufwand ✓
DM6 M von Leica
Aufrechtes Materialmikroskop
Alles eingestellt und gespeichert
Motorisierter, hoch präziser 2-Gang-Fokustrieb ✓ Motorisierter 6-fach- oder 7-fach-Objektivrevolver ✓ Das Leica DM6 M + Software = ideales Inspektionssystem für höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit ✓
Apreo 2 Scanning Electron Microscope von Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 REM: Rasterelektronenmikroskop mit beeindruckenden Auflösungseigenschaften
Unerreichte Vielseitigkeit dank ChemiSEM-Technologie
*All round performance* im Nanometer- oder Subnanometerbereich, wie Nanopartikeln, Pulver ✓ Fortschrittliche Automatisierung, einfache Bedienung, schnelle Ergebnisse ✓ Extreme Flexibilität bei der Handhabung einer Vielzahl von Probentypen ✓
JEOL SEM Series von JEOL
Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie
Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen
Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum hochauflösenden Feldemitter ✓ Langlebige Messgeräte, exzellente Datengewinnung, kompakte Stellmaße ✓ Effiziente, zuverlässige Serviceverträge und individuelle Zubehöroptionen (EDX,WDX,EBSD,GatherX,etc) ✓
ALPHA II von Bruker
Chemische Analyse leicht gemacht: Kompaktes FT-IR-System
Steigern Sie die Effizienz Ihrer Routineanalysen mit benutzerfreundlicher Technologie
Einfach zu bedienen dank OPUS TOUCH software ✓ Zuverlässig und langlebig durch "RockSolid"-Technologie ✓ Kompaktes Design kann perfekt auf Ihre Anwendung abgestimmt werden ✓
LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
Unser Fokus: höchste Datenqualität und Messgeschwindigkeit ✓ Einfaches Bedienkonzept: Anwender sind in Minuten geschult ✓ Smarte Nachhaltigkeit: Benötigt keinerlei kostspielige Verbrauchsmaterialien ✓
Battery Analysis Guide von PerkinElmer
Batterien besser machen - durch umfassende Materialanalyse
Eingehende Analyse für mehr Leistung und Sicherheit
Kathoden- und Anodenanalyse und -prüfung - einschließlich der Analyse von Batterieausfällen ✓ Charakterisierung von Separatoren, Membranen und Bindemitteln ✓ Elektrolytanalyse - wie z. B. die Lösungsmittelzusammensetzung von Elektrolyten mit ICP-OES und GC/MS ✓
Produkte kaufen - Auswahl nach Produktkategorie
JEOL SEM Series von JEOL
Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie
Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen
Apreo 2 Scanning Electron Microscope von Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 REM: Rasterelektronenmikroskop mit beeindruckenden Auflösungseigenschaften
Unerreichte Vielseitigkeit dank ChemiSEM-Technologie
DM8000 M & DM12000 M von Leica
Mehr sehen, schneller erkennen
Inspektionssysteme für höchsten Durchsatz
DMi8 A von Leica
Inverses Mikroskop Leica DMi8 für industrielle Anwendungen
Mehr von der Probe sehen
LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
Emspira 3 von Leica
Inspirierend einfache Inspektionen
Inspektion mit einem einzigen System
HYPERION II von Bruker
FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung
Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle
Produkte für Fehleranalyse kaufen – nach Anbieter
Produkte für das Labor oder den Produktionsprozess
JEOL SEM Series von JEOL
Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie
Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen
Apreo 2 Scanning Electron Microscope von Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 REM: Rasterelektronenmikroskop mit beeindruckenden Auflösungseigenschaften
Unerreichte Vielseitigkeit dank ChemiSEM-Technologie
DM8000 M & DM12000 M von Leica
Mehr sehen, schneller erkennen
Inspektionssysteme für höchsten Durchsatz
DMi8 A von Leica
Inverses Mikroskop Leica DMi8 für industrielle Anwendungen
Mehr von der Probe sehen
ALPHA II von Bruker
Chemische Analyse leicht gemacht: Kompaktes FT-IR-System
Steigern Sie die Effizienz Ihrer Routineanalysen mit benutzerfreundlicher Technologie
Emspira 3 von Leica
Inspirierend einfache Inspektionen
Inspektion mit einem einzigen System
LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
HYPERION II von Bruker
FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung
Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle
Noch nicht das richtige Produkt gefunden?
Die chemie.de Produktsuche
Starten Sie jetzt ihre gezielte Suchanfrage mit einer breiten Auswahl an Filtermöglichkeiten. So finden Sie problemlos das zu Ihrer Suche passende Produkt inklusive Herstellerinformationen, Angebotsanfrage- und Download-Möglichkeiten.
