Produkte für Fehleranalyse kaufen
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Produkte für Fehleranalyse kaufen
DM8000 M & DM12000 M von Leica
Mehr sehen, schneller erkennen
Inspektionssysteme für höchsten Durchsatz
Bauweise verhindert Staubansammlungen und Eckenströmungen für saubere Analyse- und Inspektionskammer ✓ Maximale laterale Auflösung mit 150X UV-Objektiv ✓ Das 0,7x USP-Objektiv ermöglicht ein größeres Sichtfeld und verkürzt die Analysezeit ✓
DVM6 von Leica
NICHT SUCHEN. FINDEN!
Schnell, zuverlässig und einfach zu bedienen
Flexibel forschen ✓ Schnelle und einfache Untersuchung Ihrer Proben ✓ Verlässliche Ergebnisse ✓
DMi8 A von Leica
Inverses Mikroskop Leica DMi8 für industrielle Anwendungen
Mehr von der Probe sehen
Sie können mit einem Klick von der Makro- (35 mm) zur Nanodarstellung (1 nm) umschalten ✓ Größere Detailgenauigkeit mit der einzigartigen UC-3D Beleuchtung ✓ Intuitive Handhabung ✓
Emspira 3 von Leica
Inspirierend einfache Inspektionen
Inspektion mit einem einzigen System
Sparen Sie Zeit mit der schnellen Probenidentifikation ✓ Messen und dokumentieren Sie direkt während der visuellen Inspektion – ohne PC ✓ Klare Bilder mit weniger manuellem Aufwand ✓
DM6 M von Leica
Aufrechtes Materialmikroskop
Alles eingestellt und gespeichert
Motorisierter, hoch präziser 2-Gang-Fokustrieb ✓ Motorisierter 6-fach- oder 7-fach-Objektivrevolver ✓ Das Leica DM6 M + Software = ideales Inspektionssystem für höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit ✓
Apreo 2 Scanning Electron Microscope von Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 REM: Rasterelektronenmikroskop mit beeindruckenden Auflösungseigenschaften
Unerreichte Vielseitigkeit dank ChemiSEM-Technologie
*All round performance* im Nanometer- oder Subnanometerbereich, wie Nanopartikeln, Pulver ✓ Fortschrittliche Automatisierung, einfache Bedienung, schnelle Ergebnisse ✓ Extreme Flexibilität bei der Handhabung einer Vielzahl von Probentypen ✓
JEOL SEM Series von JEOL
Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie
Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen
Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum hochauflösenden Feldemitter ✓ Langlebige Messgeräte, exzellente Datengewinnung, kompakte Stellmaße ✓ Effiziente, zuverlässige Serviceverträge und individuelle Zubehöroptionen (EDX,WDX,EBSD,GatherX,etc) ✓
ALPHA II von Bruker
Chemische Analyse leicht gemacht: Kompaktes FT-IR-System
Steigern Sie die Effizienz Ihrer Routineanalysen mit benutzerfreundlicher Technologie
Einfach zu bedienen dank OPUS TOUCH software ✓ Zuverlässig und langlebig durch "RockSolid"-Technologie ✓ Kompaktes Design kann perfekt auf Ihre Anwendung abgestimmt werden ✓
LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
Unser Fokus: höchste Datenqualität und Messgeschwindigkeit ✓ Einfaches Bedienkonzept: Anwender sind in Minuten geschult ✓ Smarte Nachhaltigkeit: Benötigt keinerlei kostspielige Verbrauchsmaterialien ✓
Battery Analysis Guide von PerkinElmer
Batterien besser machen - durch umfassende Materialanalyse
Eingehende Analyse für mehr Leistung und Sicherheit
Kathoden- und Anodenanalyse und -prüfung - einschließlich der Analyse von Batterieausfällen ✓ Charakterisierung von Separatoren, Membranen und Bindemitteln ✓ Elektrolytanalyse - wie z. B. die Lösungsmittelzusammensetzung von Elektrolyten mit ICP-OES und GC/MS ✓
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JEOL SEM Series von JEOL
Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie
Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen
DM8000 M & DM12000 M von Leica
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Inspektionssysteme für höchsten Durchsatz
DMi8 A von Leica
Inverses Mikroskop Leica DMi8 für industrielle Anwendungen
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Apreo 2 Scanning Electron Microscope von Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 REM: Rasterelektronenmikroskop mit beeindruckenden Auflösungseigenschaften
Unerreichte Vielseitigkeit dank ChemiSEM-Technologie
LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
Emspira 3 von Leica
Inspirierend einfache Inspektionen
Inspektion mit einem einzigen System
HYPERION II von Bruker
FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung
Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle
Produkte für Fehleranalyse kaufen – nach Anbieter
Produkte für das Labor oder den Produktionsprozess
DM8000 M & DM12000 M von Leica
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Inspektionssysteme für höchsten Durchsatz
DMi8 A von Leica
Inverses Mikroskop Leica DMi8 für industrielle Anwendungen
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ALPHA II von Bruker
Chemische Analyse leicht gemacht: Kompaktes FT-IR-System
Steigern Sie die Effizienz Ihrer Routineanalysen mit benutzerfreundlicher Technologie
JEOL SEM Series von JEOL
Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie
Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen
Apreo 2 Scanning Electron Microscope von Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 REM: Rasterelektronenmikroskop mit beeindruckenden Auflösungseigenschaften
Unerreichte Vielseitigkeit dank ChemiSEM-Technologie
Emspira 3 von Leica
Inspirierend einfache Inspektionen
Inspektion mit einem einzigen System
LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
Battery Analysis Guide von PerkinElmer
Batterien besser machen - durch umfassende Materialanalyse
Eingehende Analyse für mehr Leistung und Sicherheit
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