Mikroskope für Fehleranalyse kaufen
Mikroskope kaufen leicht gemacht: Hier finden Sie alle Produkte und Anbieter für Fehleranalyse. Um Preise zu erfahren, fordern Sie einfach ein Angebot an. Tipp: Wählen Sie weiter unten einen Schnelleinstieg, um sich gezielt Mikroskope je nach Produktkategorie oder Anbieter anzeigen zu lassen.
Mikroskope für Fehleranalyse kaufen
DVM6 von Leica
NICHT SUCHEN. FINDEN!
Schnell, zuverlässig und einfach zu bedienen
Flexibel forschen ✓ Schnelle und einfache Untersuchung Ihrer Proben ✓ Verlässliche Ergebnisse ✓
DM8000 M & DM12000 M von Leica
Mehr sehen, schneller erkennen
Inspektionssysteme für höchsten Durchsatz
Bauweise verhindert Staubansammlungen und Eckenströmungen für saubere Analyse- und Inspektionskammer ✓ Maximale laterale Auflösung mit 150X UV-Objektiv ✓ Das 0,7x USP-Objektiv ermöglicht ein größeres Sichtfeld und verkürzt die Analysezeit ✓
DMi8 A von Leica
Inverses Mikroskop Leica DMi8 für industrielle Anwendungen
Mehr von der Probe sehen
Sie können mit einem Klick von der Makro- (35 mm) zur Nanodarstellung (1 nm) umschalten ✓ Größere Detailgenauigkeit mit der einzigartigen UC-3D Beleuchtung ✓ Intuitive Handhabung ✓
Emspira 3 von Leica
Inspirierend einfache Inspektionen
Inspektion mit einem einzigen System
Sparen Sie Zeit mit der schnellen Probenidentifikation ✓ Messen und dokumentieren Sie direkt während der visuellen Inspektion – ohne PC ✓ Klare Bilder mit weniger manuellem Aufwand ✓
DM6 M von Leica
Aufrechtes Materialmikroskop
Alles eingestellt und gespeichert
Motorisierter, hoch präziser 2-Gang-Fokustrieb ✓ Motorisierter 6-fach- oder 7-fach-Objektivrevolver ✓ Das Leica DM6 M + Software = ideales Inspektionssystem für höchste Genauigkeit und Wiederholbarkeit ✓
Apreo 2 Scanning Electron Microscope von Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 REM: Rasterelektronenmikroskop mit beeindruckenden Auflösungseigenschaften
Unerreichte Vielseitigkeit dank ChemiSEM-Technologie
*All round performance* im Nanometer- oder Subnanometerbereich, wie Nanopartikeln, Pulver ✓ Fortschrittliche Automatisierung, einfache Bedienung, schnelle Ergebnisse ✓ Extreme Flexibilität bei der Handhabung einer Vielzahl von Probentypen ✓
JEOL SEM Series von JEOL
Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie
Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen
Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum hochauflösenden Feldemitter ✓ Langlebige Messgeräte, exzellente Datengewinnung, kompakte Stellmaße ✓ Effiziente, zuverlässige Serviceverträge und individuelle Zubehöroptionen (EDX,WDX,EBSD,GatherX,etc) ✓
LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
Unser Fokus: höchste Datenqualität und Messgeschwindigkeit ✓ Einfaches Bedienkonzept: Anwender sind in Minuten geschult ✓ Smarte Nachhaltigkeit: Benötigt keinerlei kostspielige Verbrauchsmaterialien ✓
HYPERION II von Bruker
FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung
Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle
Hochempfindliche (FT-)IR-Mikroskopie und Imaging mit maximaler Geschwindigkeit am Beugungslimit ✓ Präzises Infrarot-Laser-Imaging in allen Messmodi (ATR, Transmission, Reflexion) ✓ Patentierte Kohärenzreduktion für artefaktfreie Laser Imaging Messungen bei voller Geschwindigkeit ✓
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LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
HYPERION II von Bruker
FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung
Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle
Mikroskope für Fehleranalyse kaufen – nach Anbieter
Mikroskope für das Labor oder den Produktionsprozess
DM8000 M & DM12000 M von Leica
Mehr sehen, schneller erkennen
Inspektionssysteme für höchsten Durchsatz
DMi8 A von Leica
Inverses Mikroskop Leica DMi8 für industrielle Anwendungen
Mehr von der Probe sehen
JEOL SEM Series von JEOL
Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie
Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen
Apreo 2 Scanning Electron Microscope von Thermo Fisher Scientific
Apreo 2 REM: Rasterelektronenmikroskop mit beeindruckenden Auflösungseigenschaften
Unerreichte Vielseitigkeit dank ChemiSEM-Technologie
Emspira 3 von Leica
Inspirierend einfache Inspektionen
Inspektion mit einem einzigen System
LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
HYPERION II von Bruker
FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung
Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle
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