Mikroskope für Partikelanalyse kaufen

Mikroskope kaufen leicht gemacht: Hier finden Sie alle Produkte und Anbieter für Partikelanalyse. Um Preise zu erfahren, fordern Sie einfach ein Angebot an. Tipp: Wählen Sie weiter unten einen Schnelleinstieg, um sich gezielt Mikroskope je nach Produktkategorie oder Anbieter anzeigen zu lassen.

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LUMOS II von Bruker

FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II

Ein Infrarot-Mikroskop für alle

Unser Fokus: höchste Datenqualität und Messgeschwindigkeit ✓ Einfaches Bedienkonzept: Anwender sind in Minuten geschult ✓ Smarte Nachhaltigkeit: Benötigt keinerlei kostspielige Verbrauchsmaterialien ✓

FT-IR-Mikroskope Partikelanalyse Automation
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DVM6 von Leica

NICHT SUCHEN. FINDEN!

Schnell, zuverlässig und einfach zu bedienen

Flexibel forschen ✓ Schnelle und einfache Untersuchung Ihrer Proben ✓ Verlässliche Ergebnisse ✓

3D-Mikroskope Partikelanalyse 3D-Mikroskopie
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Cleanliness Expert von Leica

Kontaminationen schnell aufspüren

Lösungen für die Sauberkeitsanalyse

Schneller Ergebnisse erhalten ✓ Erfüllen Sie Ihre aktuellen und zukünftigen Anforderungen effizient ✓ Erhalten Sie einen tieferen Einblick in die Partikel ✓

Mikroskopiesysteme Partikelanalyse Defektanalysen
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ParticleScout von WITec

Partikel automatisch finden, exakt klassifizieren, schnell identifizieren mit Raman

Beschleunigte und extrem präzise Mikroplastik, Pharmapartikel- oder Lebensmittelanalyse

ParticleScout: Finden, Klassifizieren, Quantifizieren und Identifizieren von Mikropartikeln ist damit noch einfacher als bisher.

Partikelanalyse-Software Partikelanalyse Pharmapartikelanalyse
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JEOL SEM Series von JEOL

Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie

Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen

Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum hochauflösenden Feldemitter ✓ Langlebige Messgeräte, exzellente Datengewinnung, kompakte Stellmaße ✓ Effiziente, zuverlässige Serviceverträge und individuelle Zubehöroptionen (EDX,WDX,EBSD,GatherX,etc) ✓

Partikelanalyse analytica Elektronenmikroskope
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HYPERION II von Bruker

FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung

Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle

Hochempfindliche (FT-)IR-Mikroskopie und Imaging mit maximaler Geschwindigkeit am Beugungslimit ✓ Präzises Infrarot-Laser-Imaging in allen Messmodi (ATR, Transmission, Reflexion) ✓ Patentierte Kohärenzreduktion für artefaktfreie Laser Imaging Messungen bei voller Geschwindigkeit ✓

FT-IR-Mikroskope Partikelanalyse Bildgebung
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ZEISS ZEN core von Carl Zeiss

ZEISS ZEN core - Software-Suite für vernetzte Mikroskopie vom Analyselabor bis zur Produktion

Die umfangreiche Lösung für Bildgebung, Segmentierung und Datenanalyse in vernetzten Materiallaboren

Einfache Konfiguration und einfache Bedienung kombiniert mit moderner Bildgebung ✓ Normgerechte Durchführung standardisierter Analyseverfahren ✓ Unterstützung bei GxP konformen Arbeiten ✓

Mikroskopiesoftware Partikelanalyse Datenmanagement
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Mikroskope für das Labor oder den Produktionsprozess

DVM6

DVM6 von Leica

NICHT SUCHEN. FINDEN!

Schnell, zuverlässig und einfach zu bedienen

3D-Mikroskope
Cleanliness Expert

Cleanliness Expert von Leica

Kontaminationen schnell aufspüren

Lösungen für die Sauberkeitsanalyse

Mikroskopiesysteme
ParticleScout

ParticleScout von WITec

Partikel automatisch finden, exakt klassifizieren, schnell identifizieren mit Raman

Beschleunigte und extrem präzise Mikroplastik, Pharmapartikel- oder Lebensmittelanalyse

Partikelanalyse-Software
LUMOS II

LUMOS II von Bruker

FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II

Ein Infrarot-Mikroskop für alle

FT-IR-Mikroskope
ZEISS ZEN core

ZEISS ZEN core von Carl Zeiss

ZEISS ZEN core - Software-Suite für vernetzte Mikroskopie vom Analyselabor bis zur Produktion

Die umfangreiche Lösung für Bildgebung, Segmentierung und Datenanalyse in vernetzten Materiallaboren

Mikroskopiesoftware
HYPERION II

HYPERION II von Bruker

FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung

Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle

FT-IR-Mikroskope
JEOL SEM Series

JEOL SEM Series von JEOL

Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie

Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen

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