Mikroskope für Partikelanalyse kaufen
Mikroskope kaufen leicht gemacht: Hier finden Sie alle Produkte und Anbieter für Partikelanalyse. Um Preise zu erfahren, fordern Sie einfach ein Angebot an. Tipp: Wählen Sie weiter unten einen Schnelleinstieg, um sich gezielt Mikroskope je nach Produktkategorie oder Anbieter anzeigen zu lassen.
Mikroskope für Partikelanalyse kaufen

LUMOS II von Bruker
FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II
Ein Infrarot-Mikroskop für alle
Unser Fokus: höchste Datenqualität und Messgeschwindigkeit ✓ Einfaches Bedienkonzept: Anwender sind in Minuten geschult ✓ Smarte Nachhaltigkeit: Benötigt keinerlei kostspielige Verbrauchsmaterialien ✓

DVM6 von Leica
NICHT SUCHEN. FINDEN!
Schnell, zuverlässig und einfach zu bedienen
Flexibel forschen ✓ Schnelle und einfache Untersuchung Ihrer Proben ✓ Verlässliche Ergebnisse ✓

Cleanliness Expert von Leica
Kontaminationen schnell aufspüren
Lösungen für die Sauberkeitsanalyse
Schneller Ergebnisse erhalten ✓ Erfüllen Sie Ihre aktuellen und zukünftigen Anforderungen effizient ✓ Erhalten Sie einen tieferen Einblick in die Partikel ✓

ParticleScout von WITec
Partikel automatisch finden, exakt klassifizieren, schnell identifizieren mit Raman
Beschleunigte und extrem präzise Mikroplastik, Pharmapartikel- oder Lebensmittelanalyse
ParticleScout: Finden, Klassifizieren, Quantifizieren und Identifizieren von Mikropartikeln ist damit noch einfacher als bisher.

JEOL SEM Series von JEOL
Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie
Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen
Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum hochauflösenden Feldemitter ✓ Langlebige Messgeräte, exzellente Datengewinnung, kompakte Stellmaße ✓ Effiziente, zuverlässige Serviceverträge und individuelle Zubehöroptionen (EDX,WDX,EBSD,GatherX,etc) ✓

HYPERION II von Bruker
FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung
Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle
Hochempfindliche (FT-)IR-Mikroskopie und Imaging mit maximaler Geschwindigkeit am Beugungslimit ✓ Präzises Infrarot-Laser-Imaging in allen Messmodi (ATR, Transmission, Reflexion) ✓ Patentierte Kohärenzreduktion für artefaktfreie Laser Imaging Messungen bei voller Geschwindigkeit ✓

ZEISS ZEN core von Carl Zeiss
ZEISS ZEN core - Software-Suite für vernetzte Mikroskopie vom Analyselabor bis zur Produktion
Die umfangreiche Lösung für Bildgebung, Segmentierung und Datenanalyse in vernetzten Materiallaboren
Einfache Konfiguration und einfache Bedienung kombiniert mit moderner Bildgebung ✓ Normgerechte Durchführung standardisierter Analyseverfahren ✓ Unterstützung bei GxP konformen Arbeiten ✓
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