Oberflächenanalyse-Systeme für Röntgenphotoelektronen-Spektroskopie kaufen

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Schnelle, effiziente XPS und andere Spektroskopien: Hochempfindliche Analyse kleiner Flächen ✓ Avantage-Software: Datenerfassung, Analyse und Korrelation mit der Elektronenmikroskopie ✓ In situ Probenbehandlung: NX-Heiz- und Bias-Modul für fortgeschrittene Experimente ✓

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