Produkte für Oberflächenanalytik kaufen

Produkte kaufen leicht gemacht: Hier finden Sie alle Produkte und Anbieter für Oberflächenanalytik. Um Preise zu erfahren, fordern Sie einfach ein Angebot an. Tipp: Wählen Sie weiter unten einen Schnelleinstieg, um sich gezielt Produkte je nach Produktkategorie oder Anbieter anzeigen zu lassen.

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oscas von LabCognition

Effiziente Spektroskopie-Apps zur Routineanalytik

Steigern Sie den Probendurchsatz und vermeiden Sie Fehler in Ihrem Labor

Standardisierte Apps - auch im Offline-Betrieb des Spektrometers voll funktionsfähig ✓ oscas Cloud - Zentrale Datenhaltung und laborübergreifende Verwaltung ✓ Kombilösung - Herstellerunabhängige Geräteanbindung ✓

Spektrendatenbanken Oberflächenanalytik analytica
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JEOL SEM Series von JEOL

Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie

Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen

Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum hochauflösenden Feldemitter ✓ Langlebige Messgeräte, exzellente Datengewinnung, kompakte Stellmaße ✓ Effiziente, zuverlässige Serviceverträge und individuelle Zubehöroptionen (EDX,WDX,EBSD,GatherX,etc) ✓

Oberflächenanalytik analytica Elektronenmikroskope
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alpha300 R von WITec

3D Raman Mikroskope mit unerreichter Geschwindigkeit, Sensitivität und Auflösung

Jedes chemische Detail der Probe wird sichtbar

Nur die ultrasensitive WITec-Technologie vereint höchste spektrale Performance, Schnelligkeit und eine unerreichte räumliche 3D-Auflösung in einem Gerät.

Raman-Mikroskope Oberflächenanalytik Biomedizin
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NEXSA von Thermo Fisher Scientific

Vollautomatisiertes Multi-Methoden-Oberflächenanalysesystem, das Ihre Forschung voranbringt

Effiziente Workflows mit XPS, UPS, ISS, REELS und Raman-Spektroskopie

Schnelle, effiziente XPS und andere Spektroskopien: Hochempfindliche Analyse kleiner Flächen ✓ Avantage-Software: Datenerfassung, Analyse und Korrelation mit der Elektronenmikroskopie ✓ In situ Probenbehandlung: NX-Heiz- und Bias-Modul für fortgeschrittene Experimente ✓

Oberflächenanalyse-Systeme Oberflächenanalytik Dünnschichtanalyse
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OCA 200 von DataPhysics

Mit Kontaktwinkelmesssystem Benetzung, Festkörper und Flüssigkeiten umfassend charakterisieren

Das OCA 200 löst mit intuitiver Software und modularem Aufbau individuelle Messaufgaben

Modulares System – optimal ausrüstbar für individuelle Messaufgaben ✓ Kontaktwinkel an bis zu 30 Pikoliter kleinen Tropfen messbar – auf kleinen wie großen Proben ✓ Neu entwickelte Bediensoftware mit smarter Benutzerführung – für mehr Freude beim Messen ✓

Kontaktwinkelmessgeräte Oberflächenanalytik Analysatoren
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DCAT von DataPhysics

Präzisions-Tensiometer für Oberflächen- und Grenzflächenanalysen

Modular erweiterbar, leistungsstark - ideal für Labor und Forschung

Modulares Tensiometer – Erweiterungen wie Klimakammern bis 300 °C und Langmuir-Trog verfügbar ✓ Kamera-Modul erlaubt Bild-Gewichtskraft-Korrelation zur Ermittlung der Adhäsionskraft pro Fläche ✓ 4-Spritzen-Dosiereinheit für effiziente Messung der kritischen Mizellbildungskonzentration (CMC) ✓

Tensiometer Oberflächenanalytik Adhäsionskraftmessung
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ZPA 20 von DataPhysics

Zeta-Potential-Analysator für Festkörperoberflächen

Pulver, Fasern und flache Proben elektrochemisch analysieren & Oberflächenwechselwirkungen verstehen

Patentierte Technik: Oszillatorische Strömungspotentialmessung für genaueste Ergebnisse ✓ Transparente Messzellen: Sehr gut reproduzierbar zu befüllen und einfach zu reinigen ✓ Schnelle Ergebnisse: Einzelmessungen + Automatisierte Titrationen für Isoelektrischen Punkt ✓

Oberflächenanalytik Beschichtungstechnik Bestimmung Isoelektrischer Punkt
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LUMOS II von Bruker

FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II

Ein Infrarot-Mikroskop für alle

Unser Fokus: höchste Datenqualität und Messgeschwindigkeit ✓ Einfaches Bedienkonzept: Anwender sind in Minuten geschult ✓ Smarte Nachhaltigkeit: Benötigt keinerlei kostspielige Verbrauchsmaterialien ✓

FT-IR-Mikroskope Oberflächenanalytik Automation
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MSA One-Click SFE von KRÜSS

MSA One-Click SFE

Analyse der Benetzbarkeit in einer Sekunde mit einem Klick

Vollautomatische Messung des Kontaktwinkels und der freien Oberflächenenergie in einer Sekunde ✓ Nutzerunabhängige Ergebnisse dank des zuverlässigen und vordefinierten Messablaufs ✓ Messung an großen Werkstücken und fertigen Produkten wie Autokarosserien, Flugzeugteilen oder Wänden ✓

Oberflächenanalyse-Systeme Oberflächenanalytik Benetzbarkeit-Quantifizierung
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Tensíío von KRÜSS

Durchbruch in der Tensiometrie

Ein Gerät, 15 Methoden zur Analyse von Ober- und Grenzflächenspannung sowie der Benetzbarkeit

Ein großes, integriertes Touch-Display vereinfacht die Bedienung und spart Platz im Labor ✓ Integrierte Temperaturregelung zwischen -15 und 135 °C ✓ 15 verschiedene Methoden zur Analyse der Ober- und Grenzflächenspannung sowie der Benetzbarkeit ✓

Tensiometer Oberflächenanalytik Adhäsionsanalyse
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Produkte für das Labor oder den Produktionsprozess

JEOL SEM Series

JEOL SEM Series von JEOL

Rasterelektronenmikroskopie: Flexible Systeme für Forschung und Industrie

Vom Tischgerät bis zum FEG-REM: Maßgeschneiderte Lösungen für präzise Analysen

OCA 200

OCA 200 von DataPhysics

Mit Kontaktwinkelmesssystem Benetzung, Festkörper und Flüssigkeiten umfassend charakterisieren

Das OCA 200 löst mit intuitiver Software und modularem Aufbau individuelle Messaufgaben

Kontaktwinkelmessgeräte
DCAT

DCAT von DataPhysics

Präzisions-Tensiometer für Oberflächen- und Grenzflächenanalysen

Modular erweiterbar, leistungsstark - ideal für Labor und Forschung

Tensiometer
NEXSA

NEXSA von Thermo Fisher Scientific

Vollautomatisiertes Multi-Methoden-Oberflächenanalysesystem, das Ihre Forschung voranbringt

Effiziente Workflows mit XPS, UPS, ISS, REELS und Raman-Spektroskopie

Oberflächenanalyse-Systeme
alpha300 R

alpha300 R von WITec

3D Raman Mikroskope mit unerreichter Geschwindigkeit, Sensitivität und Auflösung

Jedes chemische Detail der Probe wird sichtbar

Raman-Mikroskope
LUMOS II

LUMOS II von Bruker

FT-IR-Mikroskopie auf der Überholspur – das LUMOS II

Ein Infrarot-Mikroskop für alle

FT-IR-Mikroskope
ZPA 20

ZPA 20 von DataPhysics

Zeta-Potential-Analysator für Festkörperoberflächen

Pulver, Fasern und flache Proben elektrochemisch analysieren & Oberflächenwechselwirkungen verstehen

oscas

oscas von LabCognition

Effiziente Spektroskopie-Apps zur Routineanalytik

Steigern Sie den Probendurchsatz und vermeiden Sie Fehler in Ihrem Labor

Spektrendatenbanken
HYPERION II

HYPERION II von Bruker

FT-IR und IR-Laser-Imaging (QCL) Mikroskop für Forschung und Entwicklung

Untersuchen Sie makroskopische Proben mit mikroskopischer Auflösung (5 µm) in sekundenschnelle

FT-IR-Mikroskope
SpectraGenius

SpectraGenius von S.T.Japan

Die neue herstellerunabhängige Software für Ihre Spektrensuche – SpectraGenius

Einfach zu bedienen & zuverlässig – Die geniale Software für die erfolgreiche Substanzidentifikation

Spektrendatenbanken
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