1 White Paper: Rasterkraftmikroskope von Bruker

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Charakterisierung von nanomechanischen Eigenschaften mit AFM

Elastizitätsmodul, viskoelastischer Eigenschaften, Reibung und Adhäsion im Nanometerbereich

Überblick über Methoden der nanomechanische Charakterisierung von Materialien mit Rasterkraftmikroskopie (AFM).

Rasterkraftmikroskope Elastizitätsmessung nanomechanische Charakterisierung
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