WITec stellt Option für Ultraschnelles konfokales Raman Imaging vor

62 500 Raman Spektren in weniger als 2 Minuten

04.12.2007

WITec stellt eine neue Option für das ultra-schnelle Raman Imaging vor. Mit dieser Option reduziert sich die Aufnahmezeit für ein einzelnes Ramanspektrum laut Unternehmen auf bis zu 1,7 Millisekunden. Ein konfokales Ramanbild, das aus mehreren Zehntausend Spektren besteht, kann somit in wenigen Minuten aufgezeichnet werden. Besteht ein Bild zum Beispiel aus 250x250 Pixel = 62.500 Spektren, beträgt die gesamte Aufnahmezeit weniger als zwei Minuten. Der Schlüssel zu dieser Höchstleistung ist der Einsatz einer spektroskopischen EMCCD Kamera als Detektor in Verbindung mit dem äußerst effizienten optischen System des konfokalen Ramanmikroskopes alpha300 R. Die neue Option verringert die Gesamtdauer des Messvorganges erheblich und liefert in kürzerer Zeit mehr verwertbares Datenmaterial, was sich positiv auf die Betriebskosten des Systems auswirkt. Darüber hinaus kommt die außergewöhnliche Empfindlichkeit vor allem heiklen und wertvollen Proben zugute, bei denen geringste Anregungsleistungen notwendig sind. Auch zeitaufgelöste Untersuchungen von schnellen dynamischen Prozessen können von den kurzen spektralen Aufnahmezeiten profitieren.

"Mit dieser Imaging Option setzt WITec einen neuen innovativen Standard bei der Aufnahmezeit und der Empfindlichkeit in der konfokalen Raman Mikroskopie" erklärt Dr. Olaf Hollricher, WITec Geschäftsführer Forschung und Entwicklung. "Ab sofort ist Raman Imaging mit der vollen spektralen Information pro Bildpunkt nur noch ein Sache von wenigen Minuten."

Die Ultraschnelle Raman Imaging Technik ist als optionales Feature für das konfokale Ramanmikroskop alpha300 R und die konfokale Raman Imaging Upgrades der alpha300 AFM und SNOM Serie erhältlich. Beim konfokalen Raman Imaging wird an jedem Bildpunkt ein komplettes Raman Spektrum aufgenommen. Durch die Analyse der unterschiedlichen Peak-Charakeristika lassen sich dann die Bilder erzeugen und die Verteilung der chemischen Komponenten, Spannungsfelder oder Kristallinitätsverhältnisse aufzeigen. Typische Anwendungen für diese zerstörungsfreie Methode finden sich in der biomedizinischen und pharmazeutischen Forschung, in der Halbleiter- und Materialforschung sowie in der Nanotechnologie.

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