Heinz-Bethge-Nachwuchspreis für Mikroskopie vergeben
Bernard Baptista da Cunha wird mit dem Nachwuchspreis der Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie geehrt. Der 27-Jährige erhielt die mit 500 Euro dotierte Auszeichnung im Rahmen der Jahresversammlung der Stiftung in Halle. Er hat ein Korrektursystem entwickelt, das eine größere Schärfe des Partikelstrahls bei niedrigen Elektronen- beziehungsweise Ionenenergien ermöglicht.
Bernard Baptista da Cunha erhält den Nachwuchspreis 2015 der Heinz-Bethge-Stiftung für angewandte Elektronenmikroskopie.
© Heinz-Bethge-Stiftung
Die Heinz-Bethge-Stiftung honoriert mit dem Nachwuchspreis herausragende Master-, Diplom- und Promotionsarbeiten, in deren Mittelpunkt theoretische beziehungsweise experimentelle Beiträge zur Mikroskopie beziehungsweise Mikrostrukturaufklärung mittels mikroskopischer oder elektronenoptischer Techniken stehen. »Mit dem Preis möchten wir die Auseinandersetzung von Studierenden und jungen Wissenschaftlern mit mikroskopischen Techniken fördern. Die Arbeit von Bernard Baptista da Cunha zeigt, dass auch mit einem theoretischen Ansatz innovative Lösungen für das wichtige Problem der Aberrationskorrektur entstehen können«, sagt Professor Goerg H. Michler, Vorstandsvorsitzender der Bethge-Stiftung.
Bernard Baptista da Cunha studierte nach dem Abitur zunächst Elektrotechnik in seiner Heimatstadt Bremen, anschließend Maschinenbau in Hamburg. 2013 erwarb er an der Universität Oldenburg seinen Bachelor in technischer Physik, in diesem Jahr den Mastertitel an der Universität Oldenburg/Karlsruher Institut für Technologie mit der nun ausgezeichneten Arbeit »Entwicklung einer auf nicht-zirkularen Aperturelektroden basierenden Korrektureinheit zur Reduzierung der chromatischen Aberration in teilchenoptischen Systemen«.
Er hat darin ein elektrostatisches Korrektursystem für niedrige Elektronen- beziehungsweise Ionenenergien entwickelt, das die Unschärfe des Partikelstrahls in diesem Energiebereich reduzieren kann. Das Korrektursystem, dessen Möglichkeiten der Physiker an Modellen berechnet hat, könnte bei Niederspannungselektronenmikroskopen eine höhere Auflösung und bei der Präparation von Proben mit fokussierten Ionenstrahlen einen genaueren Materialabtrag ermöglichen.
»Ich war sehr überrascht und umso erfreuter. Seit ich mich für Elektronenoptik begeistere, hat mich die Frage nach der Diskrepanz zwischen theoretisch möglicher und technisch erreichbarer Auflösung in elektronenoptischen Mikroskopen im Vergleich zu lichtoptischen beschäftigt. Dass ich dazu mit der Arbeit einen Beitrag geleistet habe und dieser jetzt auch noch ausgezeichnet wurde, freut mich sehr«, sagt der 27-Jährige, der gerade auf der Suche nach einer Promotionsstelle ist und dabei gerne weiter zur Ionenoptik forschen möchte.
Der Preisträger wurde von einer internationalen Jury ausgewählt, die dabei die Relevanz der eingereichten Arbeiten für anwendungsorientierte Fragestellungen, die Originalität des Lösungsansatzes zur Strukturaufklärung, die Komplexität der mikroskopischen Charakterisierung oder der Präparationsmethodik sowie die wissenschaftliche Qualität bewertete.
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