Mit SPECTRO XEPOS schnelle Cadmium-Analyse bis unter 10 ppm

24.01.2003

Als Reaktion auf die EU-Direktive für Altautos sowie auf die Elektronikschrott-Direktive, die nach ihrer Veröffentlichung (voraussichtlich im ersten Quartal 2003) ebenfalls binnen 18 Monaten in nationales Recht der EU-Mitgliedsstaaten umzusetzen ist, hat SPECTRO die Lösung zur Schwermetallanalyse entwickelt.

Für die Bestimmung von Cadmium, Blei, Quecksilber und Chrom in den durch die ELV festgelegten beziehungsweise in der WEEE zu erwartenden Grenzwerten hat sich das energiedispersive RFA-System SPECTRO XEPOS als ideales Basisgerät dieser Applikation gezeigt. Die erreichte mittlere Nachweisgrenze für Cd bei Messungen von granulierten Kunststoffpolymeren beträgt 8 mg/kg. Damit unterschreitet das XEPOS die von der ELV-Direktive vorgegebenen Grenzwert. Auch für Blei, Quecksilber und sechswertiges Chrom können die Grenzwerte optimal überwacht werden. Die Nachweisgrenzen für Einzelelemente verbessern sich durch die Polarisation matrixabhängig um den Faktor 4 bis 7.

Investitionsschutz besteht auch für Anwender, die unter die WEEE-Direktive fallen werden. Allgemein wird erwartet, dass sich die Elektronikschrott-Direktive an die Grenzwerte der ELV anlehnen wird.

Mit dem SPECTRO XEPOS ist eine Multi-Elementanalyse nach den in den Direktiven aufgeführten Schwermetallen innerhalb von 500 Sekunden, eine reine Cadmium-Analyse in 300 Sekunden abgeschlossen. Die Probenvorbereitung ist denkbar einfach: Das Material muss lediglich aufgemahlen werden und wird dann als Schüttung gemessen.

Als Anwendungsfelder für den Einsatz des XEPOS- sieht SPECTRO neben der Automobilindustrie und ihren Zulieferbetrieben die Elektronik-Industrie, Kabelimporteure sowie die Recycling-Branche und Compounder.

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